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奧林巴斯Vanta Element-S手持式XRF分析儀

更新時間：2025-07-18

產(chǎn)品特點:
奧林巴斯Vanta Element-S手持式XRF分析儀析儀是一款經(jīng)濟實用的XRF檢測儀，可以對元素進行分析，可以實惠的價格快速完成合金牌號的辨別和分揀。用于條件惡劣的環(huán)境中，且其擁有成本較低。符合IP54評級標準，具有防塵和防潮的特性。通過了墜落測試（MIL-STD-810G），可避免分析儀在墜落時受到損壞，從而減少了對分析儀進行高成本維修的需求。

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產(chǎn)品介紹

品牌	OLYMPUS/奧林巴斯	價格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進口	應用領域	地礦,能源,電子/電池,綜合

奧林巴斯Vanta Element-S手持式XRF分析儀介紹：

Vanta Element手持式XRF系列分析儀可以對元素進行分析，可以實惠的價格快速完成合金牌號的辨別和分揀。這個系列有兩個高性價比型號：

Vanta Element分析儀可以實惠的價格完成合金辨別
Vanta Element-S分析儀可以實惠的價格完成合金辨別，并探測到包含鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、硫（S）和磷（P）在內的輕元素

兩種型號的分析儀都可以快速辨別合金牌號，并在屏幕上清楚地顯示牌號對比信息，從而可加速金屬檢測，有效完成廢料分揀、金屬制造和貴金屬分析等應用。

類似于智能手機的用戶界面，易于學習，使用方便，有助于簡化用戶的培訓過程和分揀過程。

	Vanta Element型號	Vanta Element-S型號
用途	以經(jīng)濟的成本完成合金的辨別	以經(jīng)濟的成本完成輕元素的探測
擅長	快速基本的分析	分析鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、硫（S）和磷（P）
探測器	PIN	硅漂移探測器（SDD）
窗口	厚聚酰亞胺窗口	聚丙烯紡織纖維（Prolene）窗口，帶有聚酰亞胺網(wǎng)格背襯
激勵源	2瓦特X射線管，35 kV鎢（W）陽極靶材	4瓦特X射線管，50 kV銀（Ag）陽極靶材

XRF分析儀的高級特性 Vanta Element系列分析儀具有連通性能，有助于簡化廢料金屬的回收和質量控制過程。準確且具有重復性的結果 Vanta分析儀的電子部件 Axon技術的穩(wěn)定性和計數(shù)率方便的數(shù)據(jù)管理具有無線連通性能（可選配），可方便地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡上的文件夾中使用奧林巴斯的科學云可以實現(xiàn)云數(shù)據(jù)存儲，并可實時以遠程方式查看數(shù)據(jù) 直接將數(shù)據(jù)導出到USB驅動盤中用于存儲結果的1 GB工業(yè)用microSD卡

XRF分析儀的高級特性

Vanta Element系列分析儀具有連通性能，有助于簡化廢料金屬的回收和質量控制過程。

準確且具有重復性的結果

Vanta分析儀的電子部件
Axon技術的穩(wěn)定性和計數(shù)率

方便的數(shù)據(jù)管理

具有無線連通性能（可選配），可方便地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡上的文件夾中
使用奧林巴斯的科學云可以實現(xiàn)云數(shù)據(jù)存儲，并可實時以遠程方式查看數(shù)據(jù)
直接將數(shù)據(jù)導出到USB驅動盤中
用于存儲結果的1 GB工業(yè)用microSD卡

	堅固耐用且經(jīng)濟實用的手持式XRF分析儀這款分析儀可用于條件惡劣的環(huán)境中，且其擁有成本較低。符合IP54評級標準，具有防塵和防潮的特性。通過了墜落測試（MIL-STD-810G），可避免分析儀在墜落時受到損壞，從而減少了對分析儀進行高成本維修的需求。經(jīng)過評定，在-10 °C到45 °C的溫度范圍內，可以持續(xù)進行檢測。防磨不銹鋼面板。無需使用工具即可方便地更換窗口。

堅固耐用且經(jīng)濟實用的手持式XRF分析儀

這款分析儀可用于條件惡劣的環(huán)境中，且其擁有成本較低。

符合IP54評級標準，具有防塵和防潮的特性。
通過了墜落測試（MIL-STD-810G），可避免分析儀在墜落時受到損壞，從而減少了對分析儀進行高成本維修的需求。
經(jīng)過評定，在-10 °C到45 °C的溫度范圍內，可以持續(xù)進行檢測。
防磨不銹鋼面板。
無需使用工具即可方便地更換窗口。

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